冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫度過沖相關(guān)問題的學(xué)習(xí)資料

冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：

溫度過沖的危害
……溫度試驗(yàn)箱在開機(jī)和每次的加溫、保溫過程中產(chǎn)生的溫度過沖對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品是非常有害的。尤其是那些溫度敏感的產(chǎn)品和膠合材料，瞬時(shí)過沖的溫度都會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的損壞和膠合材料的失效。……
 
溫度過沖相關(guān)概念
 
3.2.15
溫度過沖 temperature over
在設(shè)備升溫或降溫至規(guī)定溫度過程中，工作空間實(shí)際溫度超出規(guī)定溫度允許范圍。

3.2.16
溫度過沖量 temperature overshoot
在設(shè)備升溫或降溫至規(guī)定溫度過程中，工作空間實(shí)際溫度超出規(guī)定溫度允許范圍的量。
計(jì)算公式如下：
ΔT0=|T-Ts|-|ΔT|

式中：

ΔT0——溫度過沖量，單位為攝氏度（℃）；
T——在設(shè)備升溫或降溫至規(guī)定溫度過程中，工作空間實(shí)際高或低溫度，單位為攝氏度（℃）；
Ts——設(shè)定溫度，單位為攝氏度（℃）；
ΔT——溫度允許偏差值，單位為攝氏度（（℃）。
3.2.17
溫度過沖恢復(fù)時(shí)間 recovery time of temperature over
在設(shè)備升溫或降溫至規(guī)定溫度過程中，工作空間實(shí)際溫度從超出規(guī)定溫度允許范圍至開始穩(wěn)定在規(guī)定溫度允許范圍的時(shí)間。
——GB/T 5170.1-2016 檢測(cè)方法第1部分：總則
 
8.8 溫度過沖量檢驗(yàn)
8.8.1 測(cè)量點(diǎn)位置
溫度過沖量測(cè)量點(diǎn)規(guī)定為設(shè)備工作空間的幾何中心點(diǎn)。
8.8.2 檢驗(yàn)步驟及計(jì)算檢驗(yàn)結(jié)果
溫度過種量檢驗(yàn)步驟及計(jì)算檢驗(yàn)結(jié)果如下：
溫度過種量檢驗(yàn)與溫度偏差檢驗(yàn)同時(shí)進(jìn)行；
在設(shè)備升溫或降溫至設(shè)定溫度過程中，測(cè)量和記錄實(shí)際達(dá)到的高溫度值或低溫度值；
對(duì)所記錄的測(cè)量數(shù)據(jù)，按測(cè)量系統(tǒng)的修正值進(jìn)行修正；
取b)所記錄的測(cè)量數(shù)據(jù)，按式（10）計(jì)算溫度過沖量：

ΔT0=|T-Ts|-|ΔT|
式中：
ΔT0——溫度過沖量，單位為攝氏度（℃）；
T——在設(shè)備升溫或降溫至規(guī)定溫度過程中，測(cè)量點(diǎn)實(shí)測(cè)的高或低溫度值，單位為攝氏度（℃）；
Ts——設(shè)定的溫度值，單位為攝氏度（℃）；
ΔT——溫度允許偏差值，單位為攝氏度（（℃）。
注：設(shè)備升溫時(shí)，測(cè)量點(diǎn)的溫度沒有超出允許的高溫度，設(shè)備降溫時(shí)，測(cè)量點(diǎn)的溫度沒有超出允許的低溫度，則不存在溫度過沖，即沒有溫度過沖量 東莞市賽思檢測(cè)設(shè)備有限公司 。

8.9 溫度過沖恢復(fù)時(shí)間檢驗(yàn)
8.9.1 測(cè)量點(diǎn)位置
溫度過沖恢復(fù)時(shí)間測(cè)量點(diǎn)規(guī)定為設(shè)備工作空間的幾何中心點(diǎn)。
8.9.2 檢驗(yàn)步驟及計(jì)算檢驗(yàn)結(jié)果
溫度過沖恢復(fù)時(shí)間檢驗(yàn)與溫度過沖量檢驗(yàn)同時(shí)進(jìn)行。在溫度過沖量檢驗(yàn)時(shí)，記錄測(cè)量點(diǎn)溫度從發(fā)生溫度過沖時(shí)起，到開始穩(wěn)定在允許的高溫度內(nèi)（設(shè)備升溫至設(shè)定溫度時(shí)）或允許的低溫度內(nèi)（設(shè)備降溫至設(shè)定溫度時(shí)）所需要的時(shí)間，即為設(shè)備在該檢驗(yàn)溫度下的溫度過沖恢復(fù)時(shí)間，單位為分（min）東莞市賽思檢測(cè)設(shè)備有限公司 。
注：只有存在溫度過沖時(shí)，才有溫度過沖恢復(fù)時(shí)間。
——GB/T 5170.2-2017 檢驗(yàn)方法第2部分：溫度試驗(yàn)設(shè)備
 
其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC60068-2-1：2007，IDT）
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫（IEC60068-2-2：2007，IDT）
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化